1) pil(processer-in-loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，新车下线检测，功能实现上是否与模型有偏差。pil看似无关紧要，但不做重视也会引起一些---后果（如调度问题、cpu load，堆栈溢出等）
2) hil(harware-in-loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，车辆下线检测，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，武汉下线检测，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
整车试验包括性能试验和路试。性能试验验证车辆碰撞时对假人的保护效果。若碰撞得分过低，此时整车强度---空间有限，简单的优化方法是调节气囊参数。通过气囊刚度调整来实现假人伤害值的降低。根据整车试验结果，气囊参数进行调整锁定之后，需从新进行dv/pv、子系统的验证。所以一套试验至少要做两轮。越是要求高的主机厂，整车开发周期越长，中间需要大量的验证优化改进。
pv试验在dv试验基础上增加环境模拟试验。所用零件必须是正常生产线下来的模具件。环境模拟包括粉尘、温度震动、温湿冲击、温度冲击等。在实验室温箱中实现全生命周期的老化过程。老化之后的零件进行基础点爆，需满足设计要求。涉及到环境耐久，汽车下线检测，属于长周期试验，一轮一般至少需要3个月。供应商内部的子零件测试会严格，如发生器的温湿试验，设计冗余要大于整车使用寿命。
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