武汉电机性能检测-宁波慧声智创

1) pil(processer-in-loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。pil看似无关紧要，但不做重视也会引起一些---后果（如调度问题、cpu load，堆栈溢出等）

2) hil(harware-in-loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，电机性能检测，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。

在基于模型的软件开发环节中规定了mil/sil/hil等多项测试：

1) mil(model-in-loops)既模型在环测试，就是验证软件模型是否可以实现软件功能，测试依据是由系统需求分解而来的软件需求。

2) sil(software-in-loops)软件在环测试，对比模型自动生成的c代码和模型本身实现的功能是否一致，使用simulink自身工具就可以进行sil测试。