1) pil(processer-in-loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。pil看似无关紧要，但不做重视也会引起一些---后果（如调度问题、cpu load，堆栈溢出等）
2) hil(harware-in-loops)硬件在环测试，轴系检测公司，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
门系统测试基本电学试验（线阻测量、过电压试验、热保护试验、电流测量试验）
功能试验（摇窗机系统堵转力试验、玻璃摩擦力试验、高温环境下的功能试验、融变试验、玻璃运动速度试验、低温环境下的功能试验、防夹试验、运行噪音测试）
强度试验（进入力试验、玻璃在摇窗机机构上的固定试验、无门框系统玻璃横向试验力）
耐久试验（常温耐久试验、环境耐久试验、结冰试验）
连接器测试电学试验（电压降测试、接触电阻测量、绝缘测试、瞬断测试）
机械试验（机械振动试验、跌落试验、机械冲击试验、相关力学试验）
环境试验（温度冲击试验、温度湿度循环试验、高温老化试验、防腐蚀强度试验）
机械试验（机械冲击试验、机械振动试验、自由跌落试验、外壳强度试验）
环境试验（低温唤醒试验、高温耐久试验、低气压试验、快速温变试验、恒温恒湿试验、空气热冲击试验、温湿度循环试验、凝露试验）
盐雾试验
密封性试验（防尘、防水ip等级试验）
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