1) pil(processer-in-loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。pil看似无关紧要，但不做重视也会引起一些---后果（如调度问题、cpu load，堆栈溢出等）
2) hil(harware-in-loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
连接器测试
环境试验（低温唤醒试验、高温耐久试验、低气压试验、快速温变试验、恒温恒湿试验、空气热冲击试验、温湿度循环试验、凝露试验）
盐雾试验
密封性试验（防尘、防水ip等级试验）
中控总成测试机械试验（耐冲击测试、结构强度刚度测试、操作性能测试、模态分析）
声学试验（噪声试验）
环境试验（尺寸稳定性试验、红外光老化试验、温湿度循环试验）
根据每个零部件会产生不同特征的振动信号，电机性能检测，用这种方法能够将---品分类。
再利用不同的信号特征选择合适的信号处理方法做故障识别，比如：周期性或瞬态信号谐波信号时间或角度同步信号调制成分对于信号特征提取，测试系统提供了几种有效的信号处理算法，如频谱分析、阶次谱分析、包络分析、角度域同步平均包络、边带谱分析或角度域同步倒谱分析，等。
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